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WPA系列可测量三个波长的双折射/相位差分布，将相位差测量范围扩展至0至3500nm。适用于测量薄膜和透明树脂产品。
我们提供一系列产品，可满足从显微镜尺寸到大型（约50cm）测量对象的各种测量需求。
测量视场：37 × 44mm ～ 360 × 480mm（根据不同型号）
测量范围：0 ～ 3500nm
测量重复性：σ < 0.1nm
测量波长：523nm, 543nm, 575nm
