半导体
集成电路工艺
电阻率/PN性/少子寿命

快速非接触式PN极性测试仪

  • 产品型号：PN-50α
  • 制造原厂：Napson Corp.

PN-50α是由日本Napson公司推出的非接触式PN型判定设备。


  • 测量原理：脉冲光照射激发光电效应

  • 非破坏无沾污

  • 不受硅表面带有的氧化层影响

  • 通过光学脉冲照射进行瞬间识别   


  • 样品尺寸：
    大于 30x30mm

  • 测量范围：

         可测试PN极性的样品电阻率范围: 0.1~1,000 Ω・cm
       


NAP-PN-50α
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