半自动高速椭偏仪

  • 产品型号:ME-210
  • 制造原厂:Photonic Lattice

Photonic Lattice的ME系列高速椭偏仪可对整片 8 英寸和 12 英寸晶圆进行测量。 此外,还可以进行窄区域测量以及透明基板上的测量

测量重复性:

厚度:σ<0.1 nm

折射率:0.001

最小测量数据光斑尺寸:

宽域模式:0.5 mm

普通模式:55 μm

高精度模式: 5.5μm

光源:半导体激光器(波长:636 nm,2 类)

激光入射角:70°

测量速度:

宽域模式:约 1,000 点/分钟

普通模式:约 33,000 点/分钟

高精度模式:约 132,000 点/分钟